Se proyectó con plasma granate de itrio-aluminio (YAG) con aditivo de cerio (Ce:YAG) utilizando dos dispositivos diferentes: antorcha de plasma estabilizado con gas (GSP) y antorcha de plasma estabilizado con agua (WSP). Se produjeron recubrimientos sobre acero inoxidable y placas autoportantes. Además de las caracterizaciones microestructura y cristalográficas, se realizaron pruebas dieléctricas en los revestimientos. Incluyeron medidas de capacitancia (es decir, permitividad relativa), factor de pérdida y resistividad de volumen. Después de la proyección, la fase cristalina de YAG se conservó sin descomposición alguna, pero se detectó una fracción amorfa por ambos procesos. El comportamiento dieléctrico de los revestimientos fue influenciado por imperfecciones como límites, poros y grietas delgadas.
Las muestras de Ce:YAG de proyección con plasma con éxito mediante ambas técnicas sin una pérdida irreversible de la fase cristalina deseada. Las propiedades dieléctricas son prometedoras, particularmente el factor de pérdida con valores tan bajos que no se encuentran en ningún revestimiento cerámico pulverizado.
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